성분 분석을 위해 일반적으로 사용되는 검출 장비나노재료포함하다:
1. ICP(유도 결합 플라즈마): ICP는 분석화학, 재료과학 분야에서 널리 사용되는 기술입니다. 이는 나노물질의 원소 함량과 구성을 결정하는 데 사용될 수 있습니다. 샘플을 기체 이온으로 변환하고 생성된 플라즈마 스펙트럼을 사용하여 원소의 농도를 결정합니다. ICP-MS(유도 결합 플라즈마 질량 분석기)는 ICP와 질량 분석 기술을 결합하여 나노 물질의 극히 낮은 농도의 원소를 분석합니다.
2. XRF(X-ray Fluoroscopy): XRF는 재료 분석 및 비파괴 검사에 널리 사용되는 기술입니다. 시료의 표면이나 내부에 X-선을 조사하여 시료 내 원소 특성의 형광방사선을 측정하여 원소의 조성을 결정합니다. XRF는 고체, 액체, 분말 시료를 포함한 다양한 나노물질에 적합합니다.
3. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy): EDS는 전자빔과 물질 내 시료의 상호작용에 의해 발생하는 X선을 측정하여 시료 내 원소의 조성을 결정하는 전자현미경 기술입니다. EDS는 주사전자현미경(SEM)과 함께 나노물질의 표면 조성 분석을 제공하는 데 자주 사용됩니다.
